За допомогою методів дифракції повільних електронів, фото- та оже- електронної спектроскопій досліджені зміни структури та електронних властивостей інтерфейсів Sn/Ge(111l)-c(2x8). Встановлено металічний характер поверхонь зі структурами [подано формулу]та Ge(111)-7x7:Sn іновірно обумовлений напруженнями в їх приповерхневій області.
The modification of the structure and electronic properties of the Sn/Ge(lll)-c(2x8) interfaces have been investigated using Auger electron spectroscopy, ultraviolet pholoelectron spectroscopy and low energy electron diffraction. It is established a metallic character the [подано формулу] and Ge(lU)-7x7:Sn surfaces probably relatedwith strais in subsurface urea.
