Опис документа:
| |
Шифр: |
05 |
Авт. знак: |
Micr |
Назва: | Microelectronics and Reliability |
Від. щодо назв.: |
an International Journal & World Abstracting Service |
Видавництво: | Pergamon Press |
Місто: | Oxford-New York-Beijing-Frankfurt-Sao Paulo-Sydney-Tokyo-Toronto |
Рік: | 1990 |
Номер частини: |
Vol. 30, N 2 |
Сторінок: | P. 205-420 |
ББК: |
. |
ISSN: |
0026-2714 |
Тип документу: |
Журнал |
Пошук: заповніть хоча б одне з полів
|
|